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2016年SIMM机械展三姆森科技沙龙演讲题目- 基于色散光谱技术在3C产品零部件量测中的运用

日期:2016-03-31 来源:三姆森科技
      3月30日下午2点,第十七届深圳国际机械制造工业展览会(SIMM),三姆森科技6F37展位上,张庆祥先生发表了针对基于色散光谱技术在3C产品零部件量测中的运用技术的主题演讲。
2016年SIMM机械展三姆森科技沙龙演讲题目- 基于色散光谱技术在3C产品零部件量测中的运用_samsuncn.com
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      张庆祥先生,东莞市三姆森光电科技有限公司董事总经理,从事测量行业领域15年,对机器视觉及光学运用有丰富的经验,对在线高速、高精度领域的非接触量测项目有独到的理解,国内色散光谱测量运用领头人,对光运用和光量测具有深入研究。
 
2016年SIMM机械展三姆森科技沙龙演讲题目- 基于色散光谱技术在3C产品零部件量测中的运用_samsuncn.com
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      会上,张总经理以智能手机零部件自动量测系统为主题,详细介绍了在异型和复杂智能手机零部件的量测新方法和手段,对不同材质,不同工艺,不同几何尺寸的零部件进行快速高精度测量;光谱技术在测量领域中的运用,特别对复杂异型零件,细微零件等的高精度测量中发挥重要作用,传统的视觉,激光都无法完成相关的要求,而光谱特有的波长运用数据采集能满足这些复杂的需求。
 
2016年SIMM机械展三姆森科技沙龙演讲题目- 基于色散光谱技术在3C产品零部件量测中的运用_samsuncn.com
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演讲现场气氛热烈,互动良好,反响强烈,参会同行对三姆森科技的光谱技术表现出极大的兴趣与肯定。


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